Эллипсоид Френеля

Pause

Эллипсо́ид Френе́ля (в кристаллооптике) — поверхность световой волны точечного источника, распространяющейся в кристалле[1].

Физические основы

undefined

В кристаллооптике, в частности, рассматривается задача прохождения света в кристаллах с учётом их внутренней структуры, определяющей изотропность или анизотропию их свойств. К изотропным средам относятся кристаллы с кубической решёткой, некоторые аморфные тела, жидкости и газы. Распространение электромагнитных волн (света) в кристаллах можно описать в терминах диэлектрической проницаемости. Для изотропных сред диэлектрическая проницаемость является коэффициентом пропорциональности между векторами и [2][3]:

,

где  — диэлектрическая проницаемость свободного пространства ().

В случае анизотропных сред диэлектрическая проницаемость (соответственно, и показатель преломления, так как ) зависят от направления распространения световой волны. В таких кристаллах может наблюдаться явление двойного лучепреломления — расщепления падающей на кристалл световой волны на две ортогонально поляризованные волны, распространяющиеся в разных направлениях с разными скоростями. Анизотропные кристаллы, обладающие двойным лучепреломлением, широко распространены в природе — кварц, исландский шпат, турмалин относят к группе одноосных кристаллов, у которых существует только одно направление, вдоль которого свет распространяется с одной и той же скоростью (оптическая ось кристалла). Группу кристаллов с двумя такими направлениями называют двуосными (например, слюда, гипс)[4].

В общем случае в кристаллах и других анизотропных средах связь между векторами и описывается через тензор вида:

,

или, сокращённо:

Тензор диэлектрической проницаемости симметричен: . Для любого кристалла можно подобрать систему координат так, чтобы этот тензор стал диагональным. Оси такой системы координат называют главными осями кристалла. Для таких осей тензор диэлектрической проницаемости имеет вид:

,

а для главных осей справедливо выражение:

,

представляющее собой уравнение эллипсоида. Видно, что оси эллипсоида Френеля пропорциональны скоростям света вдоль главных осей кристалла. Уравнение эллипсоида Френеля можно переписать в терминах показателя преломления, поскольку :

.

Анализ уравнения эллипсоида Френеля показывает, что при выполнении условия эллипсоид Френеля представляет собой эллипсоид вращения, две оси которого совпадают, и такой кристалл называют одноосным (оптическая ось совпадает с осью ). В двуосных кристаллах (с триклинной, моноклинной и орторомбической типами решёток) выполняется соотношение .

Принято обозначать большую ось , среднюю и меньшую ось . На рисунке представлены эллипсоиды Френеля в случае оптически положительного кристалла (А) и оптически отрицательного кристалла (Б).

Примечания

  1. ↑ Большая советская энциклопедия в 50-ти томах. — 1954.
  2. ↑ Ландсберг Г. С. Оптика : учебное пособие для вузов.. — 6-е изд., стер.. — Москва: Физматлит, 2003.
  3. ↑ Бутиков Е. И. Оптика : учебное пособие для вузов. — 2-е изд., перераб. и доп. — СПб.,: БХВ-Петербург : Невский ДиалектЪ, 2003.
  4. ↑ Борн М., Вольф Э. Основы оптики. — Москва: Наука, 1973.

Литература

  • Берек М. Основы практической оптики. — Москва : ГТТИ, 1933.
  • Займан Дж. Принципы теории твёрдого тела. — Москва : Мир, 1966.
  • Слюсарев Г. Г. Методы расчёта оптических систем. — Л. : Машиностроение, 1969.
  • Абрикосов А. А. Введение в теорию нормальных металлов. — Москва : Наука, 1972.
  • Попов Г. М., Шафрановский И. И. Кристаллография. — Москва : «Высшая школа», 1972.
  • Апенко М. И., Дубовик А. С. Прикладная оптика. — Москва : Наука, 1982.
  • Бутиков Е. И. Оптика : учебное пособие для вузов. — СПб. : БХВ-Петербург : Невский ДиалектЪ, 2003.
  • Ландсберг Г. С. Оптика : учебное пособие для вузов. — Москва : Физматлит, 2003.
  • Заказнов Н. П., Кирюшин С. И., Кузичев В. И. Теория оптических систем : учебное пособие для студентов вузов. — СПб., : Лань, 2008.
  • Сивухин Д. В. Общий курс физики. Т. 4. Оптика. — Москва : Физматлит, 2014.
  • Запрягаева Л. А. Прикладная оптика. Ч. 1. Введение в теорию оптических систем. — Москва : Московский институт инженеров геодезии, аэрофотосъёмки и картографии, 2017.
  • Калистратова Л. Ф. Физические основы кристаллографии. — Омск : Издательство ОмГТУ, 2020.

Ссылки

Дополнительно по теме

Категории

© Правообладателем данного материала является АНО «Интернет-энциклопедия «РУВИКИ».
Использование данного материала на других сайтах возможно только с согласия АНО «Интернет-энциклопедия «РУВИКИ».
Pause