Интерферометр Линника

Интерферо́метр Ли́нника — двухлучевой интерферометр, предназначенный для измерений неровностей поверхности порядка длины волны[1].

Физические основы

Интерферометр Линника — видоизменённый интерферометр Майкельсона, предназначенный для измерений неровностей поверхности, если величина этих неровностей сравнима с длиной волны используемого света[2], а также определения толщины плёнок, величин малых перемещений[3]. Микроинтерферометр Линника был изобретён в 1933 году[3], в результате чего возникли промышленные образцы типа МИИ-4М, МИА-1, МИИ-4. Предназначен для контроля качества обработки поверхностей как оптических элементов, так и деталей машин и механизмов[4]. Интерферометр Линника состоит из двух стеклянных пластин и двух зеркал, причём одним из зеркал служит исследуемая поверхность[5].

Оптическая схема интерферометра Линника показана на рисунке. Здесь 1 — источник света, 2 — объектив-коллиматор, 3 — делительная пластина, 4 — компенсационная пластина, 5 и 6 — микрообъективы, 7 — исследуемый объект, 8 — зеркало-эталон, 9 — объектив, 10 — шкала окуляра-микрометра, 11 — окуляр.

Источник 1 формирует волновой сферический фронт, проходящий затем через объектив-коллиматор 2, где преобразуется в плоский волновой фронт, который на светоделителе 3 расщепляется на два пучка. Отразившийся от светоделителя пучок попадает в объектив и преобразуется в параллельный пучок лучей с минимальными искажениями, попадает на поверхность исследуемого объекта и, с искажениями, сформированными поверхностью исследуемого объекта, интерферирует с опорным пучком, прошедшим сквозь светоделитель и сфокусированный объективом на образцовую оптическую поверхность В.

Интерференция обоих пучков представляет собой интерференционную картину, состоящую из параллельных полос, отклонения которых зависят от дефектов и неровностей исследуемой поверхности. Затем оба пучка попадают в объектив 9 и становятся доступными для наблюдений и измерений. Порог чувствительности составляет 0,1 шага интерференционной полосы при отсутствии шумов, при их наличии точность уменьшается до 1/5 шага интерференционной полосы. Через окуляр наблюдает интерференционные полосы равной толщины.

Конструкция интерферометра Линника позволяет компенсировать оптические аберрации, в частности, хроматическую дисперсию.

Примечания

Литература

  • Нагибина И. М. Интерференция и дифракция света. — Л. : Машиностроение, 1974.
  • Кривояз Л. М., Знаменская М. А. Практика оптической измерительной лаборатории. — Л. : Машиностроение, 1974.
  • Апенко М. И., Дубовик А. С. Прикладная оптика. — Москва : Наука, 1982.
  • Кузнецов С. М., Окатов М. А. Справочник технолога-оптика. — Л. : Машиностроение, 1983.
  • Зубаков В. Г., Семибратов М. Н., Штандель С. К. Технология оптических деталей. — Москва : Машиностроение, 1985.
  • Нагибина И. М., Москалёв В. А., Полушкина Н. А., Рудин В. Л. Прикладная физическая оптика: Учебник для вузов. — Москва : Высшая школа, 2002.
  • Бутиков Е. И. Оптика : учебное пособие для вузов. — СПб. : БХВ-Петербург : Невский ДиалектЪ, 2003.
  • Ландсберг Г. С. Оптика : учебное пособие для вузов. — Москва : Физматлит, 2003.
  • Заказнов Н. П., Кирюшин С. И., Кузичев В. И. Теория оптических систем : учебное пособие для студентов вузов. — СПб., : Лань, 2008.
  • Сивухин Д. В. Общий курс физики. Т. 4. Оптика. — Москва : Физматлит, 2014.
  • Запрягаева Л. А. Прикладная оптика. Ч. 1. Введение в теорию оптических систем. — Москва : Московский институт инженеров геодезии, аэрофотосъёмки и картографии, 2017.
  • Михеенко А. В. Геометрическая оптика : учебное пособие. — Хабаровск : Издательство Тихоокеанского государственного университета, 2018.

Ссылки


© Правообладателем данного материала является АНО «Интернет-энциклопедия «РУВИКИ».
Использование данного материала на других сайтах возможно только с согласия АНО «Интернет-энциклопедия «РУВИКИ».