Журнал технической физики

«Журна́л техни́ческой фи́зики» (ЖТФ; англ. Technical Physics (Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki)) — советский и российский рецензируемый научный журнал, посвящённый исследованиям физики поверхности, атомной и молекулярной физике, различным свойствам материалов.

Общие сведения
Журнал технической физики
англ. Technical Physics
Сокращённое название
(ISO 4)
ЖТФ
Специализация физика
Периодичность ежемесячно
Язык русский, английский
Адрес редакции Санкт-Петербург, улица Политехническая, 26
Главный редактор Андрей Георгиевич Забродский
Учредители Российская академия наук, Физико-технический институт имени А. Ф.Иоффе Российской академии наук
Страна  СССР Россия
Издатель Физико-технический институт имени А. Ф.Иоффе Российской академии наук
История издания 1931 — н. в.
Дата основания 1931
ISSN печатной версии 0044-4642
ISSN веб-версии 1726-748X
Веб-сайт journals.ioffe.ru/jtf/

Периодичность

Выходит двенадцать номеров в год.

История

Журнал основан А. Ф. Иоффе на основе издававшегося с 1924 года «Журнала прикладной физики» в 1931 году — в тот же год, что «Журнал экспериментальной и теоретической физики» и близкий по тематике Journal of Applied Physics. Начиная с 1956 года журнал переводится на английский язык.

В разное время в состав редколлегии входили известные учёные, в их числе — академики Российской академии наук Е. Б. Александров, А. Г. Забродский (главный редактор), С. В. Медведев, Р. А. Сурис, В. В. Устинов, А. М. Шалагин и члены-корреспонденты В. В. Гусаров, Г. Г. Денисов, З. Ф. Красильник, С. А. Тарасенко, В. В. Тучин, Г. А. Шнеерсон. Длительное время (вплоть до своей кончины в 2019 г.) в редколлегии журнала состоял лауреат Нобелевской премии Ж. И. Алфёров[1][2][3].

Описание

Учредителями издания являются: Российская академия наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук.

Издаётся на русском и английском языках; выходит в печатном и сетевом форматах.

Издание зарегистрировано Федеральной службой по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций. Номер свидетельства о регистрации средства массовой информации: ПИ № ФС 77-71298 от 17.10.2017[4]. Международный номер издания: ISSN 0044-4642 — печатная версия, 1726-748X — сетевая версия.

Выпуском печатной версии занимается Российская академия наук и Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук.

На страницах журнала представлены оригинальные статьи и обзоры, охватывающие все разделы прикладной физики, а также материалы, посвящённые методике и технике проведения экспериментальных исследований. Особое внимание уделяется систематической публикации результатов работ по созданию новых приборов и развитию методологии физического эксперимента.

Редакция журнала соблюдает этические правила, разработанные Ассоциацией научных редакторов и издателей (АНРИ) и Комитетом по публикационной этике (COPE), все рукописи проходят проверку в системе «Антиплагиат»[2][3].

Английская версия

Параллельно издаётся англоязычная версия журнала — полный перевод публикуется под международным названием Technical Physics, что делает исследования доступными для мировой научной аудитории. До 2022 года англоязычная версия издавалась компанией Pleiades Publishing, Ltd., выходилав свет одновременно с изданием на русском языке[5]. С 2022 года выпуском переводной версии журнала занимается Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук[6].

Судебное дело о нарушении авторских прав

15 апреля 2025 года Арбитражный суд Москвы вынес решение в пользу Физико-технического института имени А. Ф. Иоффе. Суд удовлетворил иск Института о прекращении нарушения авторских прав и присудил компенсацию, превышающую 180 миллионов рублей.

Разбирательство было инициировано из-за продолжительного нарушения авторских прав Института со стороны компаний Pleiades Publishing, Ltd. и Pleiades Publishing, Inc. Эти компании неправомерно публиковали англоязычные переводы научных статей из пяти журналов Института на портале Springer Nature, который был дистрибьютором для издательства Pleiades Publishing.

В 2022 году, из-за невыполнения Pleiades Publishing, Ltd. условий лицензионных соглашений, Институт принял решение досрочно их расторгнуть. Это решение было поддержано Российской академией наук, которая является соучредителем журналов Института. Однако, несмотря на прекращение действия договоров, издательство Pleiades Publishing продолжило публикацию англоязычных версий статей из журналов ФТИ, теперь уже непосредственно на своём журнальном сайте. В ходе судебного разбирательства в арбитражном суде компании представили ряд ходатайств, которые были обоснованно отклонены. В итоге все исковые требования Института — о прекращении неправомерного использования и распространения научных статей, поскольку авторские права на них не передавались издательству, а также о солидарном взыскании денежной компенсации — были полностью удовлетворены[3][7].

Таким образом, по состоянию на 2025 год, официально Pleiades Publishing не является издателем англоязычной версии журнала, но продолжает её публиковать на своём сайте. Выпуском переводной версии журнала на законном основании занимается Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук[6].

Тематика

Основные тематические рубрики журнала: теоретическая и математическая физика; атомная и молекулярная физика; газы и жидкости; плазма; твёрдое тело; физическое материаловедение; твердотельная электроника; физика низкоразмерных структур; фотоника; акустика; акустоэлектроника; радиофизика; электрофизика; физическая электроника; физика — наукам о жизни; физические приборы и методы эксперимента[3].

Целевая аудитория

Журнал ориентирован на широкий круг специалистов, включая исследователей, инженеров и аспирантов, чья работа связана с прикладными аспектами физических наук. Издание адресовано учёным, занимающимся разработкой и совершенствованием экспериментальных методов и приборов в различных областях техники. Также целевой аудиторией являются преподаватели профильных дисциплин высших учебных заведений[2][3].

Перечень ВАК

Журнал включён в перечень Высшей аттестационной комиссии, где должны быть опубликованы основные научные результаты диссертаций на соискание учёной степени кандидата и доктора наук по следующим научным специальностям, квартиль К1[2][3]:

  • механика жидкости, газа и плазмы (физико-математические науки);
  • приборы и методы экспериментальной физики (технические науки);
  • приборы и методы экспериментальной физики (физико-математические науки);
  • теоретическая физика (физико-математические науки);
  • физическая электроника (технические науки);
  • физическая электроника (физико-математические науки);
  • оптика (технические науки);
  • физика конденсированного состояния (технические науки);
  • физика конденсированного состояния (физико-математические науки);
  • физика плазмы (технические науки);
  • физика плазмы (физико-математические науки);
  • физика полупроводников (технические науки);
  • физика полупроводников (физико-математические науки);
  • электрофизика, электрофизические установки (технические науки);
  • электрофизика, электрофизические установки (физико-математические науки);
  • биофизика (технические науки);
  • биофизика (физико-математические науки);
  • фотоника (технические науки);
  • фотоника (физико-математические науки);
  • нанотехнологии и наноматериалы (физико-математические науки);
  • нанотехнологии и наноматериалы (химические науки).

Индексация и архивация

РИНЦ[8], Elibrary[9], НЭБ[10], ИСТИНА[11], MathNet[12], Scilit[13], OpenAlex[14], Scholia[15], Sudoc[16], DNB[17].

Главный редактор

По состоянию на 2025 год главным редактором журнала является академик Российской академии наук, доктор физико-математических наук, профессор, главный научный сотрудник, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук, А. Г. Забродский[18].

Редакционная коллегия

По состоянию на 2025 год в редакционную коллегию журнала входят[18]:

  • Шмидт А. А., заместитель главного редактора, доктор физико-математических наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Александров Е. Б., академик Российской академии наук, доктор физико-математических наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Алёшин А. Н., доктор физико-математических наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе, главный научный сотрудник лаборатории «Фундаментальных исследований низко-размерных электронных систем в наногетероструктурах соединений А3В5», Отделение сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники имени В. Г. Мокерова Центра перспективной микроэлектроники НИЦ «Курчатовский институт»;
  • Бобашев С. В., доктор физико-математических наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Бобыль А. В., доктор физико-математических наук, профессор, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Вершовский А. К., доктор физико-математических наук, лаборатория атомной радиоспектроскопии, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Гореленков Н. Н., кандидат физико-математических наук, Принстонский университет, США;
  • Гуревич С. А., доктор физико-математических наук, профессор, заведующий лабораторией полупроводниковой квантовой электроники, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Гусаров В. В., член-корреспондент Российской академии наук, заведующий кафедрой физико-химического конструирования функциональных материалов, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Денисов Г. Г., член-корреспондент Российской академии наук, Институт прикладной физики имени А. В. Гапонова-Грехова Российской академии наук;
  • Дьяконов М. И., доктор физико-математических наук, Лаборатория Шарля Кулона, Университет Монпелье, Франция;
  • Калашникова А. М., кандидат физико-математических наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Козлов А. В., доктор технических наук, Институт радиотехники и электроники имени В. А. Котельникова Российской академии наук;
  • Корнилова Е. С., доктор физико-математических наук, Институт нанотехнологий, микроэлектроники и высокочистых материалов Российской академии наук;
  • Красильник З. Ф., член-корреспондент Российской академии наук, заведующий межфакультетской базовой кафедрой «Физика наноструктур и наноэлектроника» Нижегородского государственного университета имени Н. И. Лобачевского, Институт физики микроструктур Российской академии наук;
  • Красильников А. В., доктор физико-математических наук, директор частного учреждения Государственной корпорации по атомной энергии «Росатом» «Проектный центр ИТЭР» (Частного учреждения «ИТЭР-Центр») — российского Агентства ИТЭР;
  • Кузнецов В. И., доктор физико-математических наук, заместитель руководителя Отделения физики плазмы, атомной физики и астрофизики, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Курочкин В. Е., доктор технических наук, директор, Институт аналитического приборостроения Российской академии наук;
  • Кустова Е. В., доктор физико-математических наук, профессор, заведующая кафедрой гидроаэромеханики, Санкт-Петербургский государственный университет;
  • Лебедев С. В., доктор физико-математических наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Медведев С. В., академик Российской академии наук, профессор, директор, Институт мозга человека Российской академии наук имени Н. П. Бехтеревой;
  • Молодцов С. Л. доктор физико-математических наук, международный исследовательский центр European X-ray Free-Electron Laser, Германия;
  • Нащёкин А. В., кандидат физико-математических наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Николаев В. И., доктор физико-математических наук, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Поклонский Н. А., доктор физико-математических наук, Белорусский государственный университет, Беларусь;
  • Смирнов Е. М., доктор физико-математических наук, профессор, Высшая школа прикладной математики и вычислительной физики, главный научный сотрудник научно-исследовательской лаборатории гидроаэродинамики, Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого;
  • Соколовский Г. С., доктор физико-математических наук, профессор Российской академии наук, главный научный сотрудник, лаборатория интегральной оптики на гетероструктурах, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Тарасенко С. А., член-корреспондент Российской академии наук, заведующий кафедрой теоретической физики, профессор Академического университета имени Ж. И. Алфёрова, ведущий научный сотрудник сектора теории квантовых когерентных явлений в твёрдом теле, физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе Российской академии наук;
  • Тучин В. В., член-корреспондент Российской академии наук, доктор физико-математических наук, профессор, руководитель научного медицинского центра, Саратовский государственный университет;
  • Устинов В. В., академик Российской академии наук, доктор физико-математических наук, профессор, научный руководитель, Институт физики металлов имени М. Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук;
  • Циркунов Ю. М., доктор физико-математических наук, Балтийский государственный технический университет «ВОЕНМЕХ» имени Д. Ф. Устинова;
  • Шалагин А. М., академик Российской академии наук, доктор физико-математических наук, профессор, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, заведующим кафедрой квантовой оптики в Новосибирском государственном университете;
  • Шмаёнок Л. А., кандидат физико-математических наук, компания PhysTex, Нидерланды;
  • Шматов М. Л., доктор физико-математических наук, старший научный сотрудник сектора теории твёрдого тела, Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе;
  • Шнеерсон Г. А., член-корреспондент Российской академии наук, доктор технических наук, профессор кафедры «Техника высоких напряжений и электроэнергетика», Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого.

Примечания

Ссылки