Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

Выходит 12 номеров в год.

Первый номер журнала был выпущен в 1982 году^[1]. До 1995 года журнал выходил под названием «Поверхность: Физика, химия, механика»^[1].

Учредителями издания являются: Российская академия наук, Институт физики твёрдого тела Российской академии наук^[1][2].

Издаётся на русском, английском языках. Выходит в печатном, сетевом форматах^[1][2].

Издание зарегистрировано Федеральной службой по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций^[3][4].

Номер свидетельства о регистрации средства массовой информации: ПИ № ФС 77 — 0110355 от 11.07.1995 — печатная версия, ЭЛ № ФС 77 — 88437 от 14.10.2024 — сетевая версия. Международный номер издания: ISSN 1028-0960 — печатная версия, 3034-5731 — сетевая версия.

Журнал выпускается издательством «Наука» под научно-методическим руководством Отделения физических наук Российской академии наук^[1][2][5].

Журнал публикует оригинальные теоретические и экспериментальные работы в области физики твёрдого тела, материаловедения и исследования конденсированных сред. Основное внимание уделяется изучению поверхностей, тонких плёнок, межфазных границ и наноструктур. В тематику входят исследования геометрической и энергетической структуры поверхностей, физико-химических свойств материалов и их изменений под внешними воздействиями, а также разработка методов компьютерного моделирования.

В журнале публикуются исследования, посвящённые применению рентгеноструктурных и рентгеноспектроскопических методов, нейтронографии, электронной микроскопии и дифракции, сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии, а также работам с использованием синхротронного излучения. Особое внимание уделяется развитию методик и аппаратуры для структурных исследований. Также представлены обзоры по теории конденсированного состояния, компьютерному моделированию материалов и теории взаимодействия излучений с веществом. В журнале публикуются оригинальные научные статьи, обзоры по актуальным проблемам, систематические обзоры и мета-анализы.

Издание предназначено для научных сотрудников в области физики твёрдого тела и материаловедения, исследователей, применяющих методы рентгеновского, синхротронного и нейтронного анализа, а также для аспирантов и студентов соответствующих специальностей^{[1][2][6][7][8]}.

Редакция журнала соблюдает этические правила, разработанные Комитетом по публикационной этике (COPE). Журнал использует модель отложенного открытого доступа. Это значит, что каждый выпуск становится бесплатным и доступным для всех через 12 месяцев после его первоначальной публикации^[9][10].

Издаётся гибридная англоязычная версия журнала, перевод публикуется под международным названием Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, что делает исследования доступными для мировой научной аудитории. Издаётся компанией Pleiades Publishing, Ltd.. Полнотекстовые версии статей англоязычной версии журнала доступны по подписке, частично размещены в открытом доступе на портале SpringerLink. Англоязычная версия индексируется в системах Web of Science, Scopus и др.^[11].

Журнал включён в перечень Высшей аттестационной комиссии, где должны быть опубликованы основные научные результаты диссертаций на соискание учёной степени кандидата и доктора наук по научным специальностям — естественные науки, химические науки, технические науки^[1][2].

РИНЦ^[12], Elibrary^[13], ИСТИНА^[14], Руконт^[15], НЭБ^[16], Scilit^[17], OpenAlex^[18].

По состоянию на 2025 год главным редактором журнала является член-корреспондент Российской академии наук, доктор физико-математических наук, профессор, директор Института физики твёрдого тела РАН, заведующим базовой кафедрой физики конденсированных сред в Национальном исследовательском университете «Высшая школа экономики», заведующий базовой кафедрой Астраханского государственного университета, А. А. Левченко^[19].

По состоянию на 2025 год редакционная коллегия журнала состоит из следующих персон^[19]:

• Абросимова Г. Е., заместитель главного редактора, доктор физико-математических наук, главный научный сотрудник в лаборатории структурных исследований Института физики твёрдого тела РАН;
• Коптелов Э. А., заместитель главного редактора, доктор физико-математических наук, заведующий лабораторией нейтронных исследований Института ядерных исследований РАН;
• Клементьев Е. С., ответственный секретарь, кандидат физико-математических наук, заведующий лабораторией сильнокоррелированных электронных систем Научно-образовательного центра «Функциональные наноматериалы» Балтийского федерального университета имени Иммануила Канта;
• Аристов В. Ю., доктор физико-математических наук, ведущий научный сотрудник в лаборатории структурных исследований поверхности полупроводников Института физики твёрдого тела РАН, приглашённый исследователь в Немецком центре ядерных исследований, Германия;
• Аронин А. С., доктор физико-математических наук, главный научный сотрудник в лаборатории структурных исследований Института физики твёрдого тела РАН, профессор базовой кафедры физики конденсированных сред в Национальном исследовательском университете «Высшая школа экономики», профессор Московского института стали и сплавов;
• Белушкин А. В., член-корреспондент Российской академии наук, доктор физико-математических наук, руководитель отделения нейтронных исследований и разработок в области конденсированных сред в лаборатории нейтронной физики имени И. М. Франка Объединённого института ядерных исследований;
• Бушуев В. А., доктор физико-математических наук, профессор физического факультета кафедры физики твёрдого тела Московского государственного университета имени М. В. Ломоносова;
• Волков Н. В., доктор физико-математических наук, директор Красноярского научного центра Сибирского отделения РАН, заведующий лабораторией радиоспектроскопии и спиновой электроники Института физики имени Л. В. Киренского Сибирского отделения РАН, профессор базовой кафедры физики твёрдого тела и нанотехнологий Сибирского федерального университета;
• Волошин А. Э., доктор физико-математических наук, заведующий лабораторией процессов кристаллизации Федерального научно-исследовательского центра «Кристаллография и фотоника» РАН, профессор кафедры химии и технологии кристаллов Российского химико-технологического университета имени Д. И. Менделеева;
• Григорьев С. В., доктор физико-математических наук, главный научный сотрудник Петербургского института ядерной физики имени Б. П. Константинова;
• Дмитриев Владимир Петрович, доктор физико-математических наук, профессор, ведущий научный сотрудник Европейского центра синхротронного излучения, Франция;
• Захаров А. П., доктор физико-математических наук, главный научный сотрудник в лаборатории поверхностных явлений при низкоэнергетических воздействиях Института физической химии и электрохимии имени А. Н. Фрумкина РАН;
• Каневский В. М., доктор физико-математических наук, руководитель Федерального научно-исследовательского центра «Кристаллография и фотоника» РАН;
• Ковальчук М. В., член-корреспондент Российской академии наук, доктор физико-математических наук, президент Национального исследовательского центра «Курчатовский институт»;
• Козленко Денис Петрович, доктор физико-математических наук, руководитель научно-экспериментального отдела нейтронных исследований конденсированных сред в лаборатории нейтронной физики имени И. М. Франка Объединённого института ядерных исследований;
• Коновалов О. В., кандидат физико-математических наук, сотрудник Федерального научно-исследовательского центра «Кристаллография и фотоника» РАН и Европейского центра синхротронного излучения, Франция;
• Коновалов С. В., доктор технических наук, профессор и заведующий кафедрой механики и машиностроения Сибирского государственного индустриального университета, главный научный сотрудник ОНИЛ-4 (Отраслевая научно-исследовательская лаборатория авиационного материаловедения) Самарского национального исследовательского университета имени академика С. П. Королёва;
• Лебедев А. А., доктор технических наук, руководитель отделения твердотельной электроники и заведующий лабораторией физики полупроводниковых приборов Физико-технического института имени А. Ф. Иоффе РАН;
• Рощупкин Д. В., член-корреспондент Российской академии наук, доктор физико-математических наук, руководитель лаборатории рентгеновской акустооптики Института проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН;
• Солдатов А. В., доктор физико-математических наук, научный руководитель направления «Науки о материалах и синхротронно-нейтронные исследования», директор Международного исследовательского института интеллектуальных материалов, руководитель научной лаборатории рентгеноспектральной нанометрологии в Южном федеральном университете;
• Станкевич В. г., доктор физико-математических наук, главный научный сотрудник отдела синхротронно-нейтронных исследований Национального исследовательского центра «Курчатовский институт»;
• Чернышов Д. Ю., кандидат физико-математических наук, научный сотрудников в лаборатории исследований материалов Петербургского института ядерной физики имени Б. П. Константинова, ответственный за экспериментальную станцию в Европейском центре синхротронного излучения (Франция);
• Чхало Н. И., доктор физико-математических наук, заведующий отделом многослойной рентгеновской оптики Института физики микроструктур РАН;
• Чэнь Сичжан, доктор философии (PhD), профессор Колледжа механики и электротехники, руководитель Института аддитивного производства и высокоэнергетической обработки при Университете Вэньчжоу, Китай.

По состоянию на 2025 год редакционный совет журнала состоит из следующих персон^[19]:

• Матвеев В. А., академик Российской академии наук, доктор физико-математических наук, научный руководитель Института ядерных исследований РАН, заведующий кафедрой физики элементарных частиц физического факультета Московского государственного университета имени М. В. Ломоносова, заведующий кафедрой экспериментальных методов ядерной физики Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ»;
• Аксёнов В. Л., член-корреспондент Российской академии наук, доктор физико-математических наук, главный научный сотрудник лаборатории нейтронной физики имени И. М. Франка Объединённого института ядерных исследований;
• Владимиров Ю. А., академик Российской академии наук, доктор биологических наук, заведующий кафедрой медицинской биофизики факультета фундаментальной медицины Московского государственного университета имени М. В. Ломоносова, профессор кафедры общей и медицинской биофизики Российского национального исследовательского медицинского университета имени Н. И. Пирогова, главный научный сотрудник Института кристаллографии имени А. В. Шубникова РАН;
• Далькаров О. Д., доктор физико-математических наук, профессор Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ», руководитель отделения ядерной физики и астрофизики Физического института имени П. Н. Лебедева РАН;
• Кведер В. В., академик Российской академии наук, доктор физико-математических наук, сотрудник Института физики твёрдого тела имени Ю. А. Осипьяна РАН;
• Кулипанов Г. Н., академик Российской академии наук, доктор физико-математических наук, руководитель Сибирского центра синхротронного и терагерцового излучения Института ядерной физики имени Г. И. Будкера Сибирского отделения РАН;
• Суворов Е. В., доктор физико-математических наук, главный научный сотрудник Института физики твёрдого тела имени Ю. А. Осипьяна РАН.