Автометрия
«Автометри́я» — научный журнал, зарегистрированный Федеральной службой по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций[1]. Номер свидетельства о регистрации средства массовой информации: ПИ № ФС 77 — 83391 от 24.06.2022. Международный номер издания: ISSN 0320-7102.
Что важно знать
| Автометрия | |
|---|---|
| Специализация | научный журнал |
| Периодичность | 6 раз в год |
| Язык | русский, английский |
| Адрес редакции | Новосибирск, проспект академика Коптюга, № 1 |
| Главный редактор | Сергей Бабин (с 2022) |
| Учредители | Сибирское отделение Российской академии наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирский национальный исследовательский государственный университет |
| Страна |
|
| Дата основания | 1965 |
| ISSN печатной версии | 0320-7102 |
| Веб-сайт | sibran.ru/journals/Avtometria/ |
Периодичность
Выпускается шесть раз в год[2].
Описание
Журнала основан в 1965 году. Учредителями журнала являются Сибирское отделение Российской академии наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук и Новосибирский национальный исследовательский государственный университет. В английской версии журнал выходит под названием Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing, его переводом и изданием занимается Allerton Press, Inc (США). В журнале представлены оригинальные статьи и обзоры по широкому спектру тем, включая анализ сигналов и изображений, методы искусственного интеллекта, управляющие и информационно-измерительные системы, а также микро- и нанотехнологии[2].
Научные исследования авторов журнала представлены в следующих разделах[3]:
- анализ и синтез сигналов и изображений;
- методы искусственного интеллекта;
- управляющие и информационно-измерительные системы;
- численное моделирование в физико-технических исследованиях;
- физические основы микро- и нанотехнологий и оптоэлектроники;
- оптико-физические методы исследований и измерений;
- фотоника: методы, компоненты, системы;
- оптические и оптико-электронные приборы, системы и технологии;
- оптические информационные технологии;
- специализированные тематические выпуски.
Цели и задачи
Журнал «Автометрия» — издание, где публикуются новые научные исследования и актуальные разработки по автоматизированным измерениям, измерительным системам и метрологии. Его главная цель — способствовать развитию как фундаментальной, так и прикладной науки, а также инженерной практики. Ключевыми задачами редакционной коллегии журнала являются[2]:
- рассказывать о передовых методах, инструментах и алгоритмах, которые помогают сделать измерения точнее, быстрее и автоматизированнее;
- анализировать теорию метрологии и показывать, как её результаты применяются на практике;
- поощрять дискуссии и международное сотрудничество, чтобы развивать ключевые технологии в области точных и автоматизированных измерений.
Целевая аудитория
Издание ориентировано на научных сотрудников, аспирантов, инженеров и студентов, которые занимаются фундаментальными и прикладными исследованиям в сфере высоких информационных технологий. Среди авторов журнала — представители ведущих научных и образовательных учреждений как России, так и других стран. Все публикуемые материалы проходят обязательное рецензирование[2].
Индексация и архивация
Главный редактор
Главный редактор — доктор физико-математических наук, профессор, академик, член-корреспондент отделения физических наук Российской академии наук и Сибирского отделения Российской академии наук С. А. Бабин[2].
Редакционная коллегия
В редакционную коллегию журнала входят[2]:
- Потатуркин О. И., заместитель главного редактора; доктор технических наук, профессор, специалист в области оптико-информационных технологий и систем, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;
- Косых В. П., заместитель главного редактора; кандидат технических наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, преподаватель кафедры математики и физики инженерного института Новосибирского государственного аграрного университета;
- Корольков В. П., ответственный секретарь; доктор технических наук, заместитель директора по научной работе, заведующий лабораторией дифракционной оптики, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, член Совета по научному приборостроению при Федеральном агентстве научных организаций России, член коллегии экспертов Российской академии наук, член коллегии национальных экспертов по лазерам и лазерным технологиям стран СНГ;
- Асевес А., доктор философии, Южный методистский университет, США;
- Вабниц С., профессор, Римский университет Ла Сапиенца, Италия;
- Варшней С., доктор философии, Индия;
- Габитов И. Р., профессор, Сколковский институт науки и технологий, Университет Аризоны, США;
- Грёлю Ф., профессор, Университет Бургундии, Франция;
- Драчев В. П., профессор, Сколковский институт науки и технологий;
- Евтихиев Н. Н., доктор физико-математических наук, профессор, заведующий кафедрой лазерной физики, Национальный исследовательский ядерный университет;
- Желтиков А. М., доктор физико-математических наук, Южный методистский университет, США;
- Коста де Ангелис, доктор философии, Университет Брески, Италия;
- Котов К. Ю., кандидат технических наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;
- Лаврентьев М. М., доктор физико-математических наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;
- Наний О. Е., доктор физико-математических наук, Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова;
- Рао Юн-Цзян, профессор, Университет электронных наук и технологий Китая, Ченду, Китайская Народная Республика;
- Сумецкий М. Ю., доктор физико-математических наук, Астонский институт фотонных технологий, Университет Астона, Великобритания;
- Супрадеепа В., доктор философии, Индия;
- Суровцев Н. В., член-корреспондент Российской академии наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;
- Тайченачев А. В., член-корреспондент Российской академии наук, Институт лазерной физики Сибирского отделения Российской академии наук;
- Турицын С. К., профессор, Астонский институт технологий фотоники, Школа инженерии и прикладной науки, Астонский университет, Великобритания;
- Фенг Янь, профессор, Шанхайский институт оптики и точной механики, Китайская Народная Республика;
- Фотиади А. Э., профессор, Университет Монса, Бельгия;
- Чжоу П., профессор, Оборонный научно-технический университет, Китайская Народная Республика;
- Чуркин Д. В., доктор физико-математических наук, профессор отделения физических наук Российской академии наук, Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;
- Шафаренко А. В., профессор, Хартфордширский университет, Великобритания.
Редакционный совет
В редакционный совет журнала входят[2]:
- Федорук М. П., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра информационных технологий, факультет информационных технологий, Новосибирский государственный университет;
- Бычков И. В., доктор технических наук, профессор, кафедра дискретной математики и теоретической информатики, Институт математики, экономики и информатики, Иркутский государственный университет;
- Винокуров Н. А., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра общей физики, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
- Золотухин Ю. Н., доктор технических наук, профессор, кафедра информационных систем и телекоммуникаций, факультет информатики и систем управления, Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана;
- Кулипанов Г. Н., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра физики ускорителей, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
- Кульчин Ю. Н., доктор физико-математических наук, академик Российской академии наук, профессор, кафедра компьютерных систем, Школа естественных наук, Дальневосточный федеральный университет;
- Латышев А. В., доктор физико-математических наук, член-корреспондент Российской академии наук, профессор, кафедра физики полупроводников, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
- Маркович Д. М., доктор технических наук, профессор, кафедра физической гидродинамики, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
- Нежевенко Е. С., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра оптики и лазерной физики, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
- Сойфер В. А., доктор технических наук, академик Российской академии наук, профессор, кафедра технической кибернетики, Институт электроники и приборостроения, Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королёва;
- Спектор А. А., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра систем автоматического управления, Институт высокоточных систем имени В. П. Грязева, Тульский государственный университет;
- Шалагин А. М., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра квантовой электроники, физический факультет, Новосибирский государственный университет.



