Автометрия

«Автометри́я» — научный журнал, зарегистрированный Федеральной службой по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций[1]. Номер свидетельства о регистрации средства массовой информации: ПИ № ФС 77 — 83391 от 24.06.2022. Международный номер издания: ISSN 0320-7102.

Что важно знать
Автометрия
Специализация научный журнал
Периодичность 6 раз в год
Язык русский, английский
Адрес редакции Новосибирск, проспект академика Коптюга, № 1
Главный редактор Сергей Бабин (с 2022)
Учредители Сибирское отделение Российской академии наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Страна  СССР Россия
Дата основания 1965
ISSN печатной версии 0320-7102
Веб-сайт sibran.ru/journals/Avtometria/

Периодичность

Выпускается шесть раз в год[2].

Описание

Журнала основан в 1965 году. Учредителями журнала являются Сибирское отделение Российской академии наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук и Новосибирский национальный исследовательский государственный университет. В английской версии журнал выходит под названием Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing, его переводом и изданием занимается Allerton Press, Inc (США). В журнале представлены оригинальные статьи и обзоры по широкому спектру тем, включая анализ сигналов и изображений, методы искусственного интеллекта, управляющие и информационно-измерительные системы, а также микро- и нанотехнологии[2].

Научные исследования авторов журнала представлены в следующих разделах[3]:

  • анализ и синтез сигналов и изображений;
  • методы искусственного интеллекта;
  • управляющие и информационно-измерительные системы;
  • численное моделирование в физико-технических исследованиях;
  • физические основы микро- и нанотехнологий и оптоэлектроники;
  • оптико-физические методы исследований и измерений;
  • фотоника: методы, компоненты, системы;
  • оптические и оптико-электронные приборы, системы и технологии;
  • оптические информационные технологии;
  • специализированные тематические выпуски.

Цели и задачи

Журнал «Автометрия» — издание, где публикуются новые научные исследования и актуальные разработки по автоматизированным измерениям, измерительным системам и метрологии. Его главная цель — способствовать развитию как фундаментальной, так и прикладной науки, а также инженерной практики. Ключевыми задачами редакционной коллегии журнала являются[2]:

  • рассказывать о передовых методах, инструментах и алгоритмах, которые помогают сделать измерения точнее, быстрее и автоматизированнее;
  • анализировать теорию метрологии и показывать, как её результаты применяются на практике;
  • поощрять дискуссии и международное сотрудничество, чтобы развивать ключевые технологии в области точных и автоматизированных измерений.

Целевая аудитория

Издание ориентировано на научных сотрудников, аспирантов, инженеров и студентов, которые занимаются фундаментальными и прикладными исследованиям в сфере высоких информационных технологий. Среди авторов журнала — представители ведущих научных и образовательных учреждений как России, так и других стран. Все публикуемые материалы проходят обязательное рецензирование[2].

Индексация и архивация

РИНЦ[4], Elibrary[5], Scopus[6], Springer[7], НЭБ[8], «ЭБС Лань»[9].

Также журнал включён в «Белый список» (уровень издания — У2)[10].

Главный редактор

Главный редактор — доктор физико-математических наук, профессор, академик, член-корреспондент отделения физических наук Российской академии наук и Сибирского отделения Российской академии наук С. А. Бабин[2].

Редакционная коллегия

В редакционную коллегию журнала входят[2]:

  • Потатуркин О. И., заместитель главного редактора; доктор технических наук, профессор, специалист в области оптико-информационных технологий и систем, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;
  • Косых В. П., заместитель главного редактора; кандидат технических наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, преподаватель кафедры математики и физики инженерного института Новосибирского государственного аграрного университета;
  • Корольков В. П., ответственный секретарь; доктор технических наук, заместитель директора по научной работе, заведующий лабораторией дифракционной оптики, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук, член Совета по научному приборостроению при Федеральном агентстве научных организаций России, член коллегии экспертов Российской академии наук, член коллегии национальных экспертов по лазерам и лазерным технологиям стран СНГ;
  • Асевес А., доктор философии, Южный методистский университет, США;
  • Вабниц С., профессор, Римский университет Ла Сапиенца, Италия;
  • Варшней С., доктор философии, Индия;
  • Габитов И. Р., профессор, Сколковский институт науки и технологий, Университет Аризоны, США;
  • Грёлю Ф., профессор, Университет Бургундии, Франция;
  • Драчев В. П., профессор, Сколковский институт науки и технологий;
  • Евтихиев Н. Н., доктор физико-математических наук, профессор, заведующий кафедрой лазерной физики, Национальный исследовательский ядерный университет;
  • Желтиков А. М., доктор физико-математических наук, Южный методистский университет, США;
  • Коста де Ангелис, доктор философии, Университет Брески, Италия;
  • Котов К. Ю., кандидат технических наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;
  • Лаврентьев М. М., доктор физико-математических наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;
  • Наний О. Е., доктор физико-математических наук, Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова;
  • Рао Юн-Цзян, профессор, Университет электронных наук и технологий Китая, Ченду, Китайская Народная Республика;
  • Сумецкий М. Ю., доктор физико-математических наук, Астонский институт фотонных технологий, Университет Астона, Великобритания;
  • Супрадеепа В., доктор философии, Индия;
  • Суровцев Н. В., член-корреспондент Российской академии наук, Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук;
  • Тайченачев А. В., член-корреспондент Российской академии наук, Институт лазерной физики Сибирского отделения Российской академии наук;
  • Турицын С. К., профессор, Астонский институт технологий фотоники, Школа инженерии и прикладной науки, Астонский университет, Великобритания;
  • Фенг Янь, профессор, Шанхайский институт оптики и точной механики, Китайская Народная Республика;
  • Фотиади А. Э., профессор, Университет Монса, Бельгия;
  • Чжоу П., профессор, Оборонный научно-технический университет, Китайская Народная Республика;
  • Чуркин Д. В., доктор физико-математических наук, профессор отделения физических наук Российской академии наук, Новосибирский национальный исследовательский государственный университет;
  • Шафаренко А. В., профессор, Хартфордширский университет, Великобритания.

Редакционный совет

В редакционный совет журнала входят[2]:

  • Федорук М. П., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра информационных технологий, факультет информационных технологий, Новосибирский государственный университет;
  • Бычков И. В., доктор технических наук, профессор, кафедра дискретной математики и теоретической информатики, Институт математики, экономики и информатики, Иркутский государственный университет;
  • Винокуров Н. А., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра общей физики, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
  • Золотухин Ю. Н., доктор технических наук, профессор, кафедра информационных систем и телекоммуникаций, факультет информатики и систем управления, Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана;
  • Кулипанов Г. Н., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра физики ускорителей, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
  • Кульчин Ю. Н., доктор физико-математических наук, академик Российской академии наук, профессор, кафедра компьютерных систем, Школа естественных наук, Дальневосточный федеральный университет;
  • Латышев А. В., доктор физико-математических наук, член-корреспондент Российской академии наук, профессор, кафедра физики полупроводников, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
  • Маркович Д. М., доктор технических наук, профессор, кафедра физической гидродинамики, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
  • Нежевенко Е. С., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра оптики и лазерной физики, физический факультет, Новосибирский государственный университет;
  • Сойфер В. А., доктор технических наук, академик Российской академии наук, профессор, кафедра технической кибернетики, Институт электроники и приборостроения, Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королёва;
  • Спектор А. А., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра систем автоматического управления, Институт высокоточных систем имени В. П. Грязева, Тульский государственный университет;
  • Шалагин А. М., доктор физико-математических наук, профессор, кафедра квантовой электроники, физический факультет, Новосибирский государственный университет.

Примечания

Ссылки