Найти статью
Шеппард, Колин
Колин Джеймс Ричард Шеппард (англ. Colin James Richard Sheppard; обычно упоминается как К. Дж. Р. Шеппард) — старший научный сотрудник Итальянского технологического института в Генуе (Италия). Его области исследований включают оптику, микроскопию и визуализацию, в том числе конфокальную и многофотонную микроскопию, дифракцию, трёхмерную визуализацию и реконструкцию, сверхразрешение, распространение пучков и импульсов.
Общие сведения
Что важно знать
Образование
Шеппард получил степень магистра в области инженерии в Кембриджском университете (1965—1968). Затем, с 1968 по 1972 год, он получил степень доктора философии (PhD) также в Кембриджском университете, защитив диссертацию на тему «A reflection scanning electron diffractometer and its application to the oxidation of metals»[5] под руководством Чарльза Уильяма Оутли[6]. В 1986 году он также получил степень доктора наук (DSc) в области физических наук в Оксфордском университете.
Академическая карьера
Шеппард работает старшим научным сотрудником в Итальянском технологическом институте в Генуе (Италия). Ранее он был профессором кафедры биоинженерии и инженерного факультета Национального университета Сингапура (2003—2012). Он занимал совместные должности на кафедрах биологических наук (факультет естественных наук) и диагностической радиологии (медицинская школа) Национального университета Сингапура. Он был научным сотрудником факультета SMART (Сингапурско-Массачусетский альянс по исследованиям и технологиям)[7] и адъюнкт-исследователем в SERI (Сингапурский научно-исследовательский институт глаза).
Он получал стипендию Совета по научным и инженерным исследованиям (1974—1976) и был университетским лектором по инженерным наукам в Оксфордском университете (1979—1989). Был младшим научным сотрудником колледжа Святого Иоанна (1975—1978) и научным сотрудником Пемброк-колледжа Оксфордского университета (1979—1989). Работал профессором физики в Сиднейском университете (1989—2003) и директором по исследованиям Австралийского ключевого центра микроскопии и микроанализа (1995—2001).
Является внештатным научным сотрудником Пемброк-колледжа в Оксфорде. Был стипендиатом JSPS в Институте промышленных наук Токийского университета (Япония), почётным профессором Сиднейского университета, адъюнкт-профессором Университета Западной Австралии, приглашённым профессором Массачусетского технологического института, приглашённым профессором в Федеральной политехнической школе Лозанны (Швейцария), гостевым профессором в Делфтском техническом университете (Нидерланды), приглашённым профессором имени Карла Цейса в Йенском университете (Германия), приглашённым профессором в Варшавском политехническом университете (Польша) и стипендиатом Лайла в Мельбурнском университете (Австралия).
Занимал должности вице-президента Международной комиссии по оптике (ICO), президента Международного общества оптики в науках о жизни (OWLS), главного редактора журнала Journal of Optics A: Pure and Applied Optics и редактора издания Advances in Optical & Electron Microscopy (Academic Press)[8].
Награды и премии
Получил несколько наград за свои исследования, включая Исследовательскую премию Александра фон Гумбольдта (в Институте науки о свете Макса Планка, Эрланген, Германия), премию Отделения оптики и фотоники Института физики, премию по метрологии Национальной физической лаборатории, премию за академическое предпринимательство British Technology Group, премию Гира и Ландиса Института инженеров-электриков, а также благодарность в рамках премии принца Уэльского за промышленные инновации и производство.