Фудзи Масуока

Фудзио Масуока (яп. 舛岡 富士雄, род. 8 мая 1943, Такасаки, Гумма, Япония) — японский инженер, работавший в Toshiba и университете Тохоку. Советник основанной им фирмы Unisantis Electronics[1][2] и почётный профессор Университета Тохоку[2]. Является изобретателем флеш-памяти, в том числе разработчиком NOR и NAND флеш-памяти (1980-е годы)[3]. Кроме того в 1988 году он был руководителем команды разработчиков первого МОП-транзистора с универсальным затвором (GAA) (GAAFET)[4].

Общие сведения
Фудзи Масуока
яп. 舛岡富士雄
Дата рождения 8 мая 1943(1943-05-08) (83 года)
Место рождения
Страна
Научная сфера электротехника
Место работы
Образование
Награды и премии
Премия Морриса Либманна (1997) заслуженный деятель культуры[d] (2013) премия Хонда (2018)

Биография

Фудзио Масуока вырос в семье с родителями и двумя сёстрами[3]; с десяти лет он занимался с частным преподавателем по математике. В 1966 году Масуока окончил университет Тохоку в Сендае, Япония. В 1971 году там же получил докторскую степень[5] и поступил на работу в Toshiba. Там им юыл разработан МОП-транзистор, лёгший в основу микросхем со стиранием памяти (стирание происходит путём засвечивания ультрафиолетом) — предшественников EEPROM (электрически стираемого перепрограммируемого ПЗУ) и флеш-памяти[6][7]. В 1976 году Масуока разработал DRAM — динамическую память с произвольным доступом (DRAM) с двойной структурой поликристаллического кремния. В 1977 году он перешёл в бизнес-подразделение Toshiba Semiconductor, где разработал мегабайтный DRAM[6].

В 1994 году Масуока стал профессором университета Тохоку[8], а впоследствии получил статус почётного профессора[2].

В 2004 году Масуока, стремясь развить изобретение 1988 года, стал главным техническим директором образованной им компании Unisantis Electronics[1][5], а позднее занял должность советника[9].

Ранее сообщалось, что у Масуоки 270 зарегистрированных патентов[6], однако эта цифра не является окончательной, так как изобретатель продолжает регистрировать новые патенты (в том числе в 2024 году).

Изобретение флеш-памяти

Масуоку больше всего волновала идея энергонезависимой памяти, то есть памяти, которая бы сохраняла данные даже при отключении питания. Стирание данных тогдашней EEPROM занимало очень много времени. Он разработал технологию «плавающего затвора», позволяющую делать это гораздо быстрее. Совместный патент был подан в 1980 году вместе с Хисакадзу Иидзукой[10][6]. Его коллега Сёдзи Ариидзуми предложил слово «флеш» («вспышка»), потому что процесс напоминал ему вспышку фотоаппарата[11].

В 1984 году на международной конференции International Electron Devices Meeting (IEDM) Масуока и его коллеги впервые представили архитектуру флеш-памяти NOR[12][13][14].

В 1987 году на той же конференции IEDM, состоявшейся в Сан-Франциско, команда Масуоки сделала доклад о разработке флеш-памяти NAND[15]. Эта архитектура позволила достичь более высокой плотности записи и меньшей стоимости по сравнению с NOR[14]. В том же году Toshiba выпустила на рынок первые коммерческие чипы флеш-памяти NAND[16].

Однако миллиарды долларов на продажах соответствующих технологий были заработаны компанией Intel[8], и пресс-служба Toshiba сообщила Forbes, что именно Intel изобрела флеш-память[8]. Что касается Масуоки, он получил премию в несколько сотен долларов за изобретение от Toshiba, а позже была сделана попытка понизить его в должности[8].

Транзистор с окружающим затвором (GAAFET)

В 1988 году исследовательская группа Toshiba под руководством Масуоки продемонстрировала первый МОП-транзистор с универсальным затвором (GAA) (GAAFET)[4]. Данная технология, также известная как транзистор с окружающим затвором (SGT), отличается тем, что затвор полностью окружает канал транзистора[17]. Такая архитектура обеспечивает превосходный электростатический контроль и значительно снижает токи утечки[17]. GAAFET считается преемником технологии FinFET, поскольку позволяет преодолевать физические ограничения при дальнейшей миниатюризации чипов[17].

Судебный процесс с Toshiba

В 2004 году Фудзио Масуока подал судебный иск против компании Toshiba, требуя компенсацию в размере 8 миллиардов иен за незаконное использование его технологий, на которые компания получила 41 патент. В 2006 году конфликт был урегулирован: Toshiba выплатила Масуоке 87 миллионов иен (около 758 тысяч долларов США)[18].[19]

Награды и премии

Библиография

  • F. Masuoka. «A new flash E2PROM cell using triple polysilicon technology.» International Electron Devices Meeting (IEDM), 1984[2].
  • F. Masuoka. «New ultra high density EPROM and flash EEPROM with NAND structure cell.» International Electron Devices Meeting (IEDM), 1987[2].
  • K Hieda, F Horiguchi, F Masuoka. «High performance CMOS surrounding gate transistor (SGT) for ultra high density LSIs.» Electron Devices Meeting, 1988. IEDM’88. Technical Digest., International. IEEE, 1988.
  • A Nitayama, F Horiguchi, F Masuoka. «A surrounding gate transistor (SGT) cell for 64/256 Mbit DRAMs.» Electron Devices Meeting, 1989. IEDM’89. Technical Digest., International. IEEE, 1989.
  • K Hieda, F Horiguchi, F Masuoka. «Impact of surrounding gate transistor (SGT) for ultra-high-density LSI’s.» IEEE Transactions on Electron Devices 38.3 (1991): 573—578.
  • K Hieda, F Horiguchi, F Masuoka . «Multi-pillar surrounding gate transistor (M-SGT) for compact and high-speed circuits.» IEEE Transactions on Electron Devices 38.3 (1991): 579—583.
  • F Horiguchi, K Ohuchi, F Masuoka. «A novel circuit technology with surrounding gate transistors (SGT’s) for ultra high density DRAM’s.» IEEE Journal of Solid-State Circuits 30.9 (1995): 960—971.

Примечания

  1. 1 2 Company Profile. Unisantis Electronics. Дата обращения: 17 июля 2019. Архивировано 22 февраля 2007 года.
  2. 1 2 3 4 5 Honda to Exhibit at CEATEC JAPAN 2018. global.honda (28 сентября 2018). Дата обращения: 12 мая 2026.
  3. 1 2 Jeff Katz. Oral History of Fujio Masuoka. Computer History Museum (21 сентября 2012). Дата обращения: 12 мая 2026.
  4. 1 2 Masuoka, Fujio; Takato, Hiroshi; Sunouchi, Kazumasa; Okabe, N.; Nitayama, Akihiro; Hieda, K.; Horiguchi, Fumio (December 1988). “High performance CMOS surrounding-gate transistor (SGT) for ultra high density LSIs”. Technical Digest., International Electron Devices Meeting: 222—225. DOI:10.1109/IEDM.1988.32796. S2CID 114148274.
  5. 1 2 Company profile. Unisantis-Electronics (Japan) Ltd.. Дата обращения: 20 марта 2017. Архивировано 22 февраля 2007 года.
  6. 1 2 3 4 Fujio Masuoka. IEEE Explore. IEEE. Дата обращения: 12 мая 2026.
  7. Masuoka, Fujio (31 August 1972). “Avalanche injection type mos memory”. Дата обращения 2026-05-12.
  8. 1 2 3 4 Fulford, Benjamin Unsung hero. Forbes (24 июня 2002). Дата обращения: 12 мая 2026.
  9. Leadership. Unisantis Electronics. Дата обращения: 12 мая 2026.
  10. Semiconductor memory device and method for manufacturing the same. US Patent 4531203 A (13 ноября 1981). Дата обращения: 12 мая 2026.
  11. Detlev Richter. Flash Memories: Economic Principles of Performance, Cost and Reliability. — Springer Science and Business Media, 2013. — Vol. 40. — P. 5–6. — ISBN 978-94-007-6081-3. — doi:10.1007/978-94-007-6082-0.
  12. F. Masuoka, M. Asano, H. Iwahashi, T. Komuro and S. Tanaka (December 9, 1984). “A new flash E2PROM cell using triple polysilicon technology”. International Electron Devices Meeting. IEEE: 464—467. DOI:10.1109/IEDM.1984.190752. S2CID 25967023.
  13. A 256K Flash EEPROM using Triple Polysilicon Technology. IEEE historic photo repository. Дата обращения: 12 мая 2026.
  14. 1 2 История флеш-памяти: от изобретения до наших дней. Habr. WD. Дата обращения: 12 мая 2026.
  15. Masuoka, F.; Momodomi, M.; Iwata, Y.; Shirota, R. (1987). “New ultra high density EPROM and flash EEPROM with NAND structure cell”. Electron Devices Meeting, 1987 International. IEDM 1987. IEEE. DOI:10.1109/IEDM.1987.191485.
  16. 1971: Reusable semiconductor ROM introduced. Computer History Museum. Дата обращения: 12 мая 2026.
  17. 1 2 3 What is a gate-all-around transistor? ASML. Дата обращения: 12 мая 2026.
  18. Toshiba урегулировала конфликт с изобретателем флеш-памяти. Sostav.ru (31 июля 2006). Дата обращения: 12 мая 2026.
  19. Tony Smith. Toshiba settles spat with Flash memory inventor: Boffin gets ¥87m but wanted ¥1bn, The Register (July 31, 2006). Дата обращения: 12 мая 2026.
  20. IEEE Morris N. Liebmann Memorial Award Recipients. IEEE. Дата обращения: 12 мая 2026. Архивировано 3 марта 2016 года.