Рентгеновская камера

Рентге́новская ка́мера — прибор для изучения атомной структуры образцов на основании рентгеновской картины рассеяния, образующейся в результате дифракции при облучении их рентгеновским излучением[1].

Физические основы

В основе работы рентгеноструктурного анализа лежит решение обратной задачи — восстановление атомной структуры образца по полученной в результате рассеяния и дифракции рентгеновского излучения, прошедшего через этот образец в рентгеновской камере, картине рассеяния. Наличие и положение максимумов и минимумов рассеяния и рефлексов на фиксирующей картину рассеяния фотографической плёнке или фотопластине, в некоторых случаях с помощью детектора рентгеновского излучения или частиц, позволяет судить об атомной структуре исследуемого образца и осуществлять контроль их качества. Рентгеновская камера применяется не только в рентгеноструктурном анализе, но и рентгенографии, а также рентгеновской топографии. Конструкции рентгеновских камер различны для разных типов образцов (монокристаллов, поликристаллов, аморфных и стекловидных образцов, плёнок, и т. д.)[2].

Все рентгеновские камеры, вне зависимости от типа исследуемых образцов и техники измерений (вращения-колебания, рассеяния под малыми углами, исследования при низких и высоких температурах) состоят из коллиматора рентгеновского излучения, направляемого из рентгеновской трубки, кассеты с фотоплёнкой или фотопластинкой, механизма смещения образца, способного не только выставить образец с высокой точностью, но и перемещать его в процессе измерений. Если исследования образцов требуют низких или высоких температур, добавляются блоки регистрации температуры, термостаты, элементы юстирования счётчиков частиц и другие вспомогательные элементы. Важной частью рентгеновской камеры является кассета с фотоплёнкой или фотопластинкой. Все элементы рентгеновской камеры должны иметь возможность юстировки с целью получения максимальной точности расположения друг относительно друга.

Основное назначение рентгеновской камеры — обеспечение выполнения условия Вульфа — Брэгга и получения качественных рентгенограмм на фиксирующих элементах. При исследовании поликристаллов используются дебаевские рентгеновские камеры (метод Дебая — Шерера) с расходящимся или сходящимся рентгеновским пучком, для монокристаллов применяют рентгеновские камеры для получения лауэграмм, колебательно-вращательные модули для исследования параметров кристаллической решётки и типа элементарной ячейки, а также механизмы развёртки с помощью рентгеновских гониометров. Аморфные и стеклообразные образцы исследуются с помощью метода рассеяния рентгеновского излучения под малыми углами дифракции.

Примечания

Литература

  • Уманский М. М. Аппаратура рентгеноструктурных исследований. — Москва : Физматлит, 1960.
  • Гинье А. Рентгенография кристаллов. — Москва : Физматлит, 1961.
  • Займан Дж. Принципы теории твёрдого тела. — Москва : Мир, 1966.
  • Финкель В. А. Высокотемпературная рентгенография металлов. — Москва : Металлургия, 1968.
  • Финкель В. А. Низкотемпературная рентгенография металлов. — Москва : Металлургия, 1971.
  • Попов Г. М., Шафрановский И. И. Кристаллография. — Москва : «Высшая школа», 1972.
  • Ашкрофт Н., Мермин Н. Физика твёрдого тела. — Москва: «Мир», 1979.
  • Калистратова Л. Ф. Физические основы кристаллографии. — Омск : Издательство ОмГТУ, 2020.

Ссылки

© Правообладателем данного материала является АНО «Интернет-энциклопедия «РУВИКИ».
Использование данного материала на других сайтах возможно только с согласия АНО «Интернет-энциклопедия «РУВИКИ».